Model：OPQE-ST/LT/MT
一，測試系統功能
光電材料與器件綜合表徵系統（OPQE）基於科研需求，設計用於測試半導體器件，功能材料（如鈣鈦礦），發光器件等綜合性能表徵系統。
- 可實現低溫，真空，超連續光譜，瞬態等光電性能測試條件
- 可測試參數包括：輸出特性，轉移特性，暗電流，光電流（光伏材料），光回應速度，變光強測試，電容，光譜回應等。
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設備結構圖，光電測試原理
二，配置參數
系統由光源，傳輸光路，探針樣品台和光電測試三部分組成。 根據使用者需求，三大部分可以進行定製化開發，以實現不同光譜覆蓋範圍，不同測試環境和不同測試功能的實現。
- 光源類型：UV增強氘燈/超連續白光鐳射/多路波長單色鐳射
- 探針台類型：低溫/常溫/高溫，有背柵，光纖導入磁場，真空等
- 光信號耦合類型：低溫真空台的光斑大小一般為mm或cm
光纖導入型，光斑尺寸由光纖芯徑決定
常溫測試下，微區光斑約為2μm，在電極引出 情況下最小可達 500nm光斑
- 測量操作裝置：分為手動控制，半自動，全自動三中規格
三 實測數據
（1）用戶實測數據
测试对象：高电子迁移率半导体（发表于Nanoscale，2019年）
测试手段：室温测试+真空探针台（液氮开循环）+B1500+500W氘灯+单色仪
测试内容：光电流随光功率的变化情况，光谱响应，响应速度
（2）用戶實測數據
测试对象：有机半导体异质结构
（发表于：Nano Letters,2019年）
測試手段：室溫測試+真空探針台（液氦閉迴圈）+Keithley 4200+超連續白光激光器+聲光晶體調製器
（3）用戶實測數據
測試物件：二維無機半導體異質結構
（发表于：ACS Nano 2020年）
測試手段：室溫測試+真空探針台（液氦閉迴圈）+ Agilent B1500+500W氙燈+單色儀
測試內容：輸出轉移曲線，光回應度隨光功率的變化情況，光回應速度，光譜回應
