高性能模塊化設計，根據用戶的應用，配置不同的系統，適合各種光學測試（拉曼、熒光、PL、時間分辨光譜和熒光壽命）
TriVista CRS+ 系統概述
- 高性能模塊化設計，根據用戶的應用，配置不同的系統，各種光學測試（拉曼、熒光、PL、時間分辨光譜和熒光壽命）
- 超高分辨率(0.14cm-1)，超低波數(<5cm-1)，超強的雜散光抑制、高靈敏度
- 加模式，減模式同一光路，軟件轉換模式後，不需要校正光路
- 唯一內置三光柵的拉曼光譜儀，覆蓋UV-IR全波段，軟件轉換光柵後，不需要校正光路
- 同時觀察斯托克斯-反斯托克斯
- 高通光率光譜儀，焦長可選：500/500/500mm, 500/500/750mm, 750/750/750mm
- 光譜檢測器可配置高量子效率（QE>95%）的CCD、EMCCD、 ICCD、InGaAs陣列，也可配置各種單點探測器
- 顯微鏡可配置OLYMPUS BX51正置或IX71倒置研究級顯微鏡，XYZ自動平台
- 可配置大樣品箱，用戶自有樣品箱、真空樣品箱、高低溫樣品台、磁場
- 多個狹縫入口，多個CCD和狹縫出口，可擴展性極強，可耦合拉曼光纖探頭，掃描顯微鏡
- 穩態激光器，脈衝激光器，OPO激光器，UV-IR任意波長
- 可擴展為TCSPC系統
- 系統設計合理，結構穩定，光路不受溫度影響，不需專業人員維護
特點：
先進性
- TriVista系列三級拉曼光譜系統在加模式下，分辨率可達到 0.14cm-1/pixel。任何細微的光譜差別，都可精確的分辨
- TriVista系列三級拉曼光譜系統，利用前兩級高性能光譜儀濾除銳利線散射光，對激光器波長沒有選擇性，無需濾光片，低波數測量可到5cm-1以下
- TriVista系列三級拉曼光譜儀應用PI特有銳利線削減技術，不需轉動光柵即可在一個CCD窗口內，同時得到低波數的Stokes/AntiStokes拉曼光譜，避免光柵轉動帶來的位置誤差。受激光器的限制，很多用戶對熒光的干擾無所適從，AntiStokes可以對您有所幫助
- 系統結合原子力，可以實現TERS針尖增強拉曼光譜測試，可以解決納米尺度下的樣品信號的檢測
- 共振拉曼分析：結合可調諧波長的激光器，實現變激發波長共振拉曼分析，對於不同禁帶寬度的材料，系統的側通用性與適用性極強， 解決了單一波長激光器挑材料的問題，比如對碳納米材料吸收區，會長隨材料特性改變，單一波長激光器無法獲得有用信息
高分辨率
- 對於半導體壓力/應力、碳納米管，同質異構的多形態現象、精細的鍵合效應等研究，必須使用高色散分光系統，得到高分辨率光譜，得到更加詳細的樣品信息，發現樣品拉曼峰的細微差異
- 小型拉曼光譜儀受到光譜儀焦長和光柵的限制，光譜分辨率通常在0.5cm-1/pixel到1cm-1/pixel
- TriVista系列三級拉曼光譜系統在加模式下，分辨率可達到0.14cm-1/pixel。任何細微的光譜差別，都可精確的分辨
加模式、減模式同一光路
- 軟件轉換模式後，不需要校正光路
- 唯一內置三光柵的拉曼光譜儀，覆蓋UV-IR全波段，軟件轉換光柵後，不需要校正光路
低波數
- 小型拉曼光譜儀作為實驗室通用儀器，使用Notch Filter或Edge Filter濾除瑞利線散射光，由於濾光片的技術限制，測量最低頻率在100cm-1左右，適合於常規樣品的測試
- 低波數拉曼光譜（0-100cm-1)是一個不可或缺的分析工具，在多個科研領域，例如單壁/多壁碳納米管，晶體的晶格振動，聚合物、超晶格半導體材料等，液體，混合物等，幫助確定這些樣品的動態結構。對於這類樣品，只有使用三級拉曼光譜測試系統，用光譜儀的相減模式，濾除銳利線散射光
- TriVista系列三級拉曼光譜系統，利用前兩級高性能光譜儀濾除銳利線散射光，低波數測量可到5cm-1以下
Sulfur的超低波数拉曼（>=5cm-1）
L-Crystine的正反斯托克斯散射，由于AntiStokes强度变化与温度相关，通过计算Stokes 与AntiStokes 的比，可以精确的得知样品
超高靈敏度
- 液氮製冷探測器，採用Pricenton Instruments探測器,超低噪音，可實現長達1h曝光時間
- 不同面陣和像素尺寸的探測器
- InGaAs陣列探測器
- 針對快速拉曼mapping可採用電子增益型探測器
- 最低紋波效應的背照式eXcelon探測器
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不同探測器的QE曲線
系統可靈活擴展
- 顯微鏡頭等三光柵配置，可覆蓋UV-IR波段。可做熒光、PL、時間分辨光譜，熒光壽命
– 深紫外至近紅外波長范圍(200至1600nm)
– 最多4個集成多線激光器和端口
– 大型外部激光器
– 紫外線和可見光/近紅外雙光束路徑
– 從紫外到近紅外的拉曼濾光片
– 適用於488、514、532，633、785和1064nm
- 大樣品的宏觀特性：可放置1x1cm比色皿，最大尺寸5x5x5cm的固體樣品，粉末，粉末壓片，薄膜等
- 宏光路耦合輸入端：可耦合到高壓樣品池，高低溫杜瓦，真空樣品箱，電化學樣品池等。也可與光纖耦合或使用標準照相機鏡頭
- 可做吸收，透射，正反射，任意角度激發
- 異形樣品箱
- 拉曼探頭
系統性能參數
- 波長范圍：深紫外到近紅外波長范圍
- 集成多達4個激光器，可選配外接大型激光器端口
- 紫外和可見光/近紅外雙光束路徑
- 自動控制激光選擇
- 自動對準，聚焦和校準功能
- 超高拉曼光譜分辨率，例如FWHM＜0.1cm-1@633nm
- 三級減模式無需濾光片，低波數可測試到+/-5cm-1
- 高波數範圍可達9000cm-1(@532nm)，適用於光致發光
- 熱電製冷和液氮製冷探測器
- 正置/倒置/雙顯微鏡
- 步進電機和壓電驅動XYZ位移台
- 快速拉曼mapping
- 集成控制加熱/冷卻台，液氦溫度低溫恆溫器
- 可結合拉曼成像和原子力顯微鏡成像
- 自動控制的偏振光譜功能
應用領域：
- 適用研究在納米尺度下，以氮化鎵(GaN)、氧化鋅(ZnO)為代表的第三代半導體材料
- 寬禁帶Ⅱ-Ⅵ族半導體發光、激光與光電探測材料、器件等研究
- 高壓科學研究中，材料、器件，以及能量轉換過程研究
TriVista CRS+ 系统结构原理
三级联光谱仪的参数性能
VISTACONTROL跨平台控制系统
减模式1级光栅与2级光栅反向旋转，重新合光，利用狭缝的精密控制以消除激光瑞利线加模式/减模式同一光路，软件切换无需校正光路。
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- 大樣品箱，可放置固體樣品，粉末樣品，薄膜樣品，比色皿池，測吸收，透射，正反射，任意角度激發鐳射器自動選擇，
- 光路的自動對準波長和強度自動校準功能
- 加熱、冷卻階段和低溫狀態的溫度控制
- 自動Z軸聚焦拉曼成像
- 快速拉曼/螢光/壽命 Mapping
- 螢光和背景抑制
- 光譜庫匹配數據（物質成份分析）
- 與原子力顯微鏡（AFM）連用並控制
- 各種數據格式匯出，各種後處理程式
- 拓展延伸光路，與外置低溫台，SEM，連用
TriVista CRS+是多功能“光谱成像综合分析平台”，提供科研级定制化的解决方案
