芯片測試分選機

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天津金海通是从事半导体封装测试设备开发与生产的高新技术企业,公司技术团队具有20年的行业经验,公司研发并生产拥有完全自主知识产权的高温IC自动测试Pick-Place分选机,将直接面向IC集成电路高端封装(BGA、QFP、QFN等)规模化的测试自动化需求。

主要用於Functional Test的IC測試(常溫,高溫,低溫)分類的機械產品,高產能,穩定性高,尤其在小尺寸產品測位上表現突出,根據客戶的不同產品要求可選擇1,2,4,8,12,16,32測試位。

芯片測試分選機 – Exceed-8000系列

Test Layout
1/2/4/8 site
Temp type
Tri-temp
Pick-up head
2×4 module
UPH
Max.6600 (8site)
Index Time
Min.1s
Contact Force
240KG
SOCKET Opening
300mmx135 mm
PKG Type
QFN,QFP,BGA,LGA,PLCC,PGA, CSP,TSOP etc.
PKG Size
From 2×2 to 70×70 mm
Jam Rate
<1/5000
Tray Type
Jdec
Temp Range
-55degC to +130degC ±3degC
Temperature accuracy
 1degC
Heating Method
Heater
Heating Rate
Ambient~130℃ < 15 min
Cooling Method
Refrigerant
Cooling Rate
Ambient~-55℃ < 30 min
Heat Dissipation
100W@-55℃,200W@25℃,300W@100℃
Num Of Sorting
Auto Tray×3,Fix Tray×3
Tester Interface
GPIB ,TTL, RS232 ,Network

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