高品質的Leica EM UC7 超薄切片機
Leica EM ACE900 冷凍斷裂系統
Leica EM ACE900是一款高端製樣系統。
在一台儀器中對樣品完成冷凍斷裂、冷凍蝕刻和電子束鍍膜。通過旋轉冷凍式載台,利用電子束進行高分辨率碳/金屬複合鍍膜,適用於任何TEM和SEM分析,可提供靈活的投影選擇。
通過用於樣品和刀具轉移的真空鎖以及控制每個電子束源的閘閥,儀器可始終保持真空狀態,確保快速、清潔的工作條件。本儀器定會成為您重要的EM樣品處理工具。
精研一體機Leica EM TXP
與觀察體系合為一體 Leica EMTXP 還帶有明亮的環形LED光源照明,以便獲得最佳視覺觀察效果。
對微小目標區域進行精確定位和样品製備
為微尺度製樣而生
一體化顯微觀察及成像系統
多種方式製備處理樣品 出於安全考慮,工具和样品所在的工作室帶有一個透明的安全罩,可避免在樣品處理過程中操作者不小心觸碰到運轉部件,又可防止碎屑飛濺。LEICA EM TXP可對樣品進行如下處理:
三離子束切割儀Leica EM TIC 3X
三離子束技術 技術 新型設計的離子槍可產生的離子束研磨速率達到150μm/h (Si10 kV,3.0 mA,50μm切割高度)。徠卡獨特的三離子束系統,可獲得優異的高質量切割截面,並且速率高,切割面寬且深,這可大大節約工作時間。通過這一獨特技術可獲得高質量切割截面,區域尺寸可達>4×1mm
Leica EM TIC 3X – 設計和操作方面的創新性特點 ››通過USB即可進行參數和程序的上傳或下載
多種多樣的樣品載台 如用一個樣品托,就可以完成前機械預製備(徠卡EM TXP)至離子束切割(徠卡EM TIC 3X),以及SEM鏡檢,然後再放入樣品存儲盒中以備後續檢測。
襯度增強
高精度 而通過切割獲得截面,如獲得很小的TSVia孔結構,已經變得輕而易舉。所有樣品台都設計達到±2μm的樣品位置校準精度。不僅樣品台的控制精度可以實現如此精確的目標定位校準工作,觀察系統也可觀察最小約3μm大小的樣品細節,以便進行精確的目標定位。為幫助定位時更好地觀察樣品,4分割LED環形光源或LED同軸照明提供很大幫助,幫助使用者從體視鏡或HD-TV攝像頭中獲得清晰的圖像。由於將真空泵內置於儀器內部,因此不需要再單獨騰出一個空間。得益於真空泵的解耦合設計,在樣品製備過程中,觀察視野不會受到真空泵產生的振動干擾。
高壓冷凍儀Leica EM ICE
高壓冷凍能夠捕捉精細結構和細胞動力學的錯綜變化
高壓冷凍結合光刺激是您發現奧妙的平台。
同步到毫秒的凍結和刺激能夠凍結您最感興趣的那一刻;以納米尺度和毫秒時間精度凍結和解析高動態過程;在高壓下冷凍固定您的含水樣品,並發現世界的秘密。