S&I 三级拉曼光譜儀– TriVista 系列
- 新發明的三级光譜儀概念
- 終極靈活性
- 傑出的表現
- 緊湊且價格實惠
配置
- 多種配置可實現廣泛的應用領域。 多達四個輸入埠和四個輸出埠提供了廣泛的不同系統設置。
- 雙單色器台的加法或減法排列可以通過軟體選擇。 加法和減法模式之間的切換是在前兩個階段內完成的，無需任何額外的光學元件。
- 因此雙單色器階段可以與最後階段一起用作拉曼光譜的三级系統。 它也可以用作螢光和光致發光的激發階段，並且可以通過系統的最後階段來檢測發射。
- 為了進行皮秒或飛秒光譜，第二個光譜儀可以安裝在 180° 附近。 所以前兩個階段補償了不同波長的不同傳播時間。
- 最後但同樣重要的是，該系統可以同時運行三個實驗。
- 所有出口都可以被單通道探測器（如光電倍增管、二極體）以及多通道探測器（如 CCD 相機或 NIR/IR 陣列探測器）佔據
- 一次組裝不同的探測器可以在掃描光子計數選項之間輕鬆切換
模型
- 根據所需的解析度，客戶可以在三個基本系統之間進行選擇。 這些是用焦距為500毫米和750毫米的成像校正單色儀設置的。
- TR 555 裝配有三個單色器，焦距為 500 mm。 該配置允許最大解析度約為 0.005 nm，光圈為 f/6.5。
- 前兩級中兩個 500 毫米單色器的組合和 750 毫米焦距的組合
- 第三階段是 TR 557。 它在加法模式下提供稍好的解析度，但在減法模式下提供 1.5 倍的解析度。
- 最後，三個 750 毫米焦距的光譜儀構建了 TR 777。 在加法模式下，該儀器的解析度類似於焦距為 2.25 米的單級單色儀。 與焦距為2.25米的儀器相比，光圈關閉/9.8也適中。
特點
- 新的三级光譜儀 TriVista TR 系列是市場上最靈活的科學應用系統。
- 三個 500 毫米和 750 毫米焦距的成像校正光譜儀可產生出色的雜散光抑制和最佳解析度。
- 對於光學設計，專利申請被初始化。 光學設計能夠在加法模式和減法模式之間切換，而無需額外的光學元件。
- TriVista TR 系列的標準工作範圍是 250 到 1050 nm。 即使在安裝之後，它也可以選擇擴展到 180nm 和/或 NIR 範圍。
解析度和雜散光抑制
- 最佳解析度和雜散光抑制連接到三级加法模式和掃描模式中的光子計數檢測器。 而且在帶CCD相機的多通道檢測模式下，性能也不比光子計數模式差多少。
- 在三级加法掃描模式下，相對波數到瑞利線的典型最小距離為 < 2 cm-1，在 500 nm 處分辨率 < 0.2 cm-1。
- 使用 CCD 相機可以將測量速度提高約 1000 倍。 在三级減法模式下，它仍然允許檢測遠低於瑞利線 5 cm-1 的拉曼光譜，在 500 nm 處具有 < 0.5 cm-1 的典型光譜解析度，CCD 像素寬度為 13 μm。
配件：
有許多配件可供選擇，例如：
- 光柵組，針對UV、VIS和 NIR 進行了優化
- 可互換的光柵轉塔，每個階段最多可容納 9 個光柵，校準到光譜儀中，並由 TriVista 系統軟體選擇。 更換炮塔簡單且可重複。
- 額外的入口和出口狹縫
- 所有狹縫的機動化
- 潛望鏡和復古照明配件可實現最佳和輕鬆的樣品調整
- 紫外到近紅外入口光學器件，帶有用於陷波和其他濾光片的支架，也用於偏振分析儀或擾頻器
用於測量固體、液體和氣體的宏觀拉曼樣品室，包含許多附件 - 適用於各種顯微鏡和 XY 載物台以進行映射
- 原位微拉曼元件和光纖探頭
- 螢光室，包含許多附件
- 用於將樣品冷卻至 3 K 的支架和微型低溫恒溫器
- 提供用於將光導引至入口狹縫的光纖電纜。 也可提供用於多痕量光譜的特殊光纖
- 多通道探測器，如冷卻增強和非增強 CCD 相機和冷卻 InGaAs 陣列探測器,……
- 冷卻和非冷卻單通道探測器，如光電倍增管、鍺探測器和其他帶有信號放大器、光子計數器或鎖定放大器等電子設備的探測器,…
還可以提供光學平臺和雷射器以進行完整設置。
軟體
直觀的軟體結合了使用者友好的介面和最大的訪問許可權，以優化系統以滿足樣品要求。
這包括：
- 控制所有系統功能，如光譜儀光柵轉台、加法和減法模式之間的切換、電動狹縫的寬度、鏡子……
- 不同模型中所有階段的完全同步
- 數據採集期間的在線載物台和狹縫移動以優化低頻拉曼測量
- 使用多通道和單通道檢測器進行數據採集
- 控制電動 XY 載物台、自動對焦……
- 控制拉曼、螢光、光致發光和其他光譜的不同模式
- 也可以根據要求添加使用者定義的附件
