动态干涉测量研究概述
动态干涉测量是一种利用同步移相来实现时变相位瞬态测量的技术，空域载频相移是实现动态干涉测量的主要手段。 动态干涉测量相对于传统干涉测量具备优秀的抗振性能，真正意义上实现了高精度干涉从实验室走向车间在线环境测量，其已经成为大口径光学制造，自适应光学系统，航空航天光学系统装调等场合必不可少的检测技术，并且可以为其它瞬态相位场的高精度测量提供解决方案，具备较强通用性
功能描述
福芯科技联合中科院光学所研制的动态干涉测量设备，具备快速曝光瞬态相移的特点，可满足大型光学元件长光腔下的在线测量。 设备由高稳定干涉测量光学系统与高精度相位测量软件组成。 配备稳频激光器; 采用精确装备及标定技术在最大程度上保证了测量结果的精确性; 特有的相移算法可实现动态相位的快速，高精度解调; 测量软件具备丰富的误差分析，数据处理报告生成等功能，满足一般光学测量需求。
优势：测量仪器尺寸为 26cm*12cm*16cm体积小巧，调整方便; 无需配备隔振平台，可减少气流扰动影响
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光学面形干涉测量设备是光学加工领域最基础的测量设备，光学生产线上不可或缺而且需求量巨大。
使用场合
- 大口径非球面光学测量/车间环境下光学件在线检查
- 光强环境扰动分析
- 自然应光学系统
- 航空航天光学系统调整
- 通信，医疗，材料制造，照明，测量仪器等行业
- 晶片晶圆，LED衬底的单晶硅，电池基板表面面形检查关键测量设备
- 空间/地基望远镜，增材制造，航空，航天等大型精密系统和重大技术装备关键核心技术
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配置参数
- 仪器：抗振型干涉仪
- 相机：高分变率相机
- 分辨率：1K*1K/2K*2K，媜频>24fps
- 激光器：稳频激光器波长632.8nm
- 最大光强长度：>50m
- 通光口径：10mm/50mm/100mm可定制
- 偏振态：圆偏振光
- 光瞳放大倍率：固定值
- 条纹对比度：用户可调节
- 数据格式：dat，.xyz，.mat，，txt…..
- 计算机操作系统：Windows 10 （64bit）/Windows XP操作手册; 抗振时域相移测量模式; 曝光控制，增益控制，采样频率设定; 条纹显示及Marks功能; Zenike系列显示，相差分析; 数据处理（加，减，平均）保存; 报告生成;
- 尺寸：26cm*12cm*16cm
- 重量：11kg
- 功耗：小于750W
- 工作湿度范围：15到30°c（59-86F）
- 系统性能：RMS重复性<0.3nm RMS 2σ–直接扣除系统误差<3nm
