显微中远红外荧光光谱系统

型号:Mono-IRPL/FORTEC

应用领域

  • 分子结构和化学键,表征和鉴别化学物种研究
  • 化合物的定量分析,化学反应动力学、晶变、相变、材料拉伸与结构的瞬变关系
  • 半导体红外材料生长(MBE),量子阱及半导体III-V材料测试

一  显微中近红外荧光(Mono-NIRPL)

系统功能描述

基于光栅光谱仪/FTIR光谱仪,针对半导体红外材料,实现LN低温条件下,1064nm激光微区激发近中远红外荧光(2-5um与8-12um)

系统结构图

III-V族材料红外荧光谱 @1064nm

InSb液氮制冷型探测器(2-5.5um)

InGaAs 液氮制冷型探测器(1-2.4um)

Ge基材料IRPL@785nm


二  微区FTIR中远红外PL光谱(Mono-MIRPL)

  • 测试波长范围:1-5um,高通量光谱单色仪,光谱分辨率1nm
  • 激发光532nm/ 785nm/ 1064nm,根据用户需求配置。
  • 基于显微成像系统,可实时监测样品的激发区
  • 对红外光谱全面优化,优秀的抑制杂散光设计处理,确保检出微弱信号。
  • 采用低噪音LN制冷InGaAs探测器,可以满足1.2-2.4um波段探测。
  • 采用低噪音LN制冷InSb探测器,可以满足2.0-5.5um波段探测。
  • 可拓展红外荧光Mapping。
  • 可拓展液氮,液氦低温测试,变温PL谱测试。

 

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